香港大學地球科學系–亞洲寶石學院 2018/19國際寶石學研討會主講嘉賓 - Dr. Andreas Burkhardt

 

 

主講嘉賓

Dr. Andreas Burkhardt

演講題目

ED-XRF分析的最新進展:礦物和寶石中的化學指紋

 

 

個人簡介:

X射線分析(瑞士)有限公司創辦人兼總裁

 

講題摘要

ED-XRF光譜GEMRAY® 5000™ 45KV6mm准直光束來自馬達加斯加的藍色尖晶石MgO重量分數27%Al2O3重量分數70%TiO2含量為42 ppmwMnO含量為460 ppmwFe2O3重量分數為2.56%CoO含量為34 ppmwZnO含量為2172 ppmwGa2O3含量為149 ppmwZrO2含量為5 ppmw和低痕量鈾(U La)

 

在過去30年中,研究者就通過能量色散X射線螢光(Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)光譜法測試礦物和寶石做出了許多嘗試。ED-XRF分析單個原子對入射X射線輻射的電子回應。螢光光譜在幾秒鐘內同時檢測出任何樣品和基質所含從鈉到鈾(Z = 11-92)的所有化學元素。ED-XRF方法用途廣泛,而且是唯一不會損害樣品或引起剩餘輻射的無損檢測方法。無需製備或拋光樣品。450 KeV的激發能量與自動濾波器選擇相結合,可優化峰值背景。如果光譜儀是完美校準的,則在實踐中可檢出結晶基質和非晶玻璃中重量分數低至0.2%至0.0002%的元素。

 

 

30年的ED-XRF經驗確保儀器快速可靠。30種元素的定量ED-XRF分析僅需60秒。地球化學實驗室沒有ED-XRF就會缺乏必要資訊。顯著痕量的釩、鎵、銣、鍶、釔、鈮、釷、鈰、鑭或鈾可在定性光譜中同時檢測出來,並精確算得從100%至0.0002(2 ppmw)的重量分數。微量元素對礦床的地球化學成因具有重要意義。它們可提供化學指紋。