個人簡介：

X射線分析（瑞士）有限公司創辦人兼總裁

講題摘要

ED-XRF光譜GEMRAY® 5000™ 45KV，6mm准直光束，來自馬達加斯加的藍色尖晶石：MgO重量分數27%，Al2O3重量分數70%，TiO2含量為42 ppmw，MnO含量為460 ppmw，Fe2O3重量分數為2.56%，CoO含量為34 ppmw，ZnO含量為2172 ppmw，Ga2O3含量為149 ppmw，ZrO2含量為5 ppmw和低痕量鈾(U La)。

在過去30年中，研究者就通過能量色散X射線螢光(Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)光譜法測試礦物和寶石做出了許多嘗試。ED-XRF分析單個原子對入射X射線輻射的電子回應。螢光光譜在幾秒鐘內同時檢測出任何樣品和基質所含從鈉到鈾(Z = 11-92)的所有化學元素。ED-XRF方法用途廣泛，而且是唯一不會損害樣品或引起剩餘輻射的無損檢測方法。無需製備或拋光樣品。4到50 KeV的激發能量與自動濾波器選擇相結合，可優化峰值背景。如果光譜儀是完美校準的，則在實踐中可檢出結晶基質和非晶玻璃中重量分數低至0.2％至0.0002％的元素。

30年的ED-XRF經驗確保儀器快速可靠。30種元素的定量ED-XRF分析僅需60秒。地球化學實驗室沒有ED-XRF就會缺乏必要資訊。顯著痕量的釩、鎵、銣、鍶、釔、鈮、釷、鈰、鑭或鈾可在定性光譜中同時檢測出來，並精確算得從100％至0.0002％(2 ppmw)的重量分數。微量元素對礦床的地球化學成因具有重要意義。它們可提供化學指紋。